高低溫試驗(yàn)高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品）的高低溫度試驗(yàn)；
高低溫測(cè)試
高溫試驗(yàn)詳細(xì)介紹：本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.2，IEC60068-2-2，IEIA364，MIL-STD-810F等。
低溫試驗(yàn)介紹：本試驗(yàn)是用來(lái)確定產(chǎn)品在低溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于低溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T2423.1，IEC60068-2-1，EIA364，MIL-STD-810F等。
溫度沖擊試驗(yàn)介紹：本試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在溫度急劇變化的氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、駐留時(shí)間、循環(huán)數(shù)。參考的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等
TTS實(shí)驗(yàn)室提供多臺(tái)不同尺寸的常規(guī)恒溫恒濕箱與步入式恒溫恒濕箱，根據(jù)不同類型的產(chǎn)品，為您提供測(cè)試服務(wù)。
高低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.2.IEC60068-2-2，IEIA364，MIL-STD-810F