硅片測(cè)試去哪里做?百檢材料檢測(cè)中心可提供硅片測(cè)試服務(wù)，為CMA資質(zhì)認(rèn)證機(jī)構(gòu)，高新技術(shù)企業(yè)，針對(duì)產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制中遇到的問(wèn)題，提供成分檢測(cè)、產(chǎn)品檢測(cè)、產(chǎn)品檢測(cè)、儀器檢測(cè)等綜合解決方案，儀器齊全，科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大，7-15個(gè)工作日可出具檢測(cè)報(bào)告，支持掃碼查詢(xún)真?zhèn)?，全?guó)上門(mén)取樣、寄樣檢測(cè)服務(wù)，檢測(cè)周期短、檢測(cè)費(fèi)用低、檢測(cè)數(shù)據(jù)科學(xué)準(zhǔn)確!

　　測(cè)試周期：7-15個(gè)工作日

　　測(cè)試費(fèi)用：工程師根據(jù)客戶(hù)檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度制定實(shí)驗(yàn)方案進(jìn)行報(bào)價(jià)。

　　硅片測(cè)試范圍

　　單晶硅片，太陽(yáng)能硅片，光伏硅片，半導(dǎo)體硅片，切割硅片，鍍膜硅片，清洗硅片，拋光硅片等。

　　硅片測(cè)試項(xiàng)目

　　電阻率測(cè)試，翹曲度測(cè)試，厚度測(cè)試，表面粗糙度測(cè)試，燃燒測(cè)試，彎曲度測(cè)試，平整度測(cè)試，絨面反射率測(cè)試，碳氧含量檢測(cè)，壓電系數(shù)測(cè)試，ECV測(cè)試，負(fù)載測(cè)試，硬度測(cè)試，抗彎強(qiáng)度測(cè)試，晶圓測(cè)試，表面雜質(zhì)測(cè)試，表面有機(jī)物測(cè)試，少子壽命測(cè)試，顆粒度測(cè)試，表面接觸角測(cè)試等。(更多項(xiàng)目需求，您可咨詢(xún)?cè)诰€(xiàn)實(shí)驗(yàn)室工程師，為您詳細(xì)解答。)

　　百檢測(cè)試報(bào)告有哪些作用?可以幫您解決哪些問(wèn)題?

　　1、銷(xiāo)售使用。(銷(xiāo)售自己的產(chǎn)品，出具第三方檢測(cè)報(bào)告讓客戶(hù)更加信賴(lài)自己的產(chǎn)品質(zhì)量)

　　2、研發(fā)使用。(研發(fā)過(guò)程中，遇到一些比較棘手的問(wèn)題，通過(guò)檢測(cè)報(bào)告數(shù)據(jù)來(lái)解決問(wèn)題，從而縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本)

　　3、改善產(chǎn)品質(zhì)量。(通過(guò)對(duì)比檢測(cè)數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)自身產(chǎn)品問(wèn)題所在，提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低生產(chǎn)成本)

　　4、科研論文數(shù)據(jù)使用。

　　5、競(jìng)標(biāo)，投標(biāo)使用(百檢檢測(cè)周期比較短，檢測(cè)費(fèi)用低，認(rèn)可度比較高，特別適合投標(biāo)使用)

　　硅片測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T29055-2019太陽(yáng)能電池用多晶硅片

　　GB/T26068-2018硅片和硅錠載流子復(fù)合壽命的測(cè)試非接觸微波反射光電導(dǎo)衰減法

　　GB/T37051-2018太陽(yáng)能級(jí)多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測(cè)定方法

　　GB/T32814-2016硅基MEMS制造技術(shù)基于SOI硅片的MEMS工藝規(guī)范

　　GB/T24578-2015硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法

　　GB/T32280-2015硅片翹曲度測(cè)試自動(dòng)非接觸掃描法

　　GB/T32281-2015太陽(yáng)能級(jí)硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的測(cè)定二次離子質(zhì)譜法

　　GB/T30859-2014太陽(yáng)能電池用硅片翹曲度和波紋度測(cè)試方法

　　GB/T30860-2014太陽(yáng)能電池用硅片表面粗糙度及切割線(xiàn)痕測(cè)試方法

　　GB/T30869-2014太陽(yáng)能電池用硅片厚度及總厚度變化測(cè)試方法

　　GB/T30701-2014表面化學(xué)分析硅片工作標(biāo)準(zhǔn)樣品表面元素的化學(xué)收集方法和全反射X射線(xiàn)熒光光譜法(TXRF)測(cè)定

　　GB/T29505-2013硅片平坦表面的表面粗糙度測(cè)量方法

　　GB/T29507-2013硅片平整度、厚度及總厚度變化測(cè)試自動(dòng)非接觸掃描法

　　GB/T6616-2009半導(dǎo)體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測(cè)試方法非接觸渦流法

　　GB/T6617-2009硅片電阻率測(cè)定擴(kuò)展電阻探針?lè)?/p>

　　GB/T6618-2009硅片厚度和總厚度變化測(cè)試方法

　　GB/T6619-2009硅片彎曲度測(cè)試方法

　　百檢檢測(cè)有什么優(yōu)勢(shì)?為什么要選擇百檢?

　　1、百檢是集體所有制檢測(cè)機(jī)構(gòu)。

　　2、免費(fèi)初檢，初檢期間不收取檢測(cè)費(fèi)用。

　　3、全國(guó)多家實(shí)驗(yàn)室分支，支持上門(mén)取樣/寄樣檢測(cè)。

　　4、檢測(cè)周期短，檢測(cè)費(fèi)用，實(shí)驗(yàn)方案齊全。

　　5、資質(zhì)齊全，實(shí)驗(yàn)室儀器齊全，科研團(tuán)隊(duì)強(qiáng)大。

　　6、36種語(yǔ)言支持編寫(xiě)MSDS服務(wù)

　　百檢寄樣檢測(cè)流程

　　1、寄樣

　　2、免費(fèi)初檢

　　3、報(bào)價(jià)

　　4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開(kāi)始實(shí)驗(yàn)

　　5、7-15個(gè)工作日完成實(shí)驗(yàn)

　　6、出具檢測(cè)報(bào)告，后期服務(wù)。

　　以上是關(guān)于硅片測(cè)試的相關(guān)介紹，如有其他需求可以咨詢(xún)實(shí)驗(yàn)室工程師幫您解答。